深層学習を用いたＥＣＴ信号からのキズ深さ同定

英字タイトル:
Flaw Depth Identification from ECT Signal Using Deep Learning
著者:
出町和之堀智之（東京大）
発刊日: 2019年7月24日
公開日: 2021年9月30日

カテゴリ: 第16回

キーワードタグ:
Convolutional Neural NetworkDeep LearningEddy Current TestingLift-off Fluctuation

概要

A deep learning model has been proposed to estimate flaw depth from ECT signals. The applicability of deep learning to data mixed with unknown parameters for defects was verified. The applicability of deep learning to data assuming lift-off fluctuation during measurement was verified.

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